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• 短篇论著 •
正常糖代谢、正常血糖高胰岛素血症及糖耐量低减人群胰岛素抵抗的评估
中华内科杂志, 2015,54(9) : 795-797. DOI: 10.3760/cma.j.issn.0578-1426.2015.09.013
引用本文: 杨光, 李春霖, 田慧, 等.  正常糖代谢、正常血糖高胰岛素血症及糖耐量低减人群胰岛素抵抗的评估 [J] . 中华内科杂志, 2015, 54(9) : 795-797. DOI: 10.3760/cma.j.issn.0578-1426.2015.09.013.
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胰岛素抵抗(IR)和β细胞功能减退是2型糖尿病(T2DM)的主要发病机制。有人认为IR在T2DM血糖发生异常之前就已存在[1,2]，因此有学者提出将T2DM的进程分为3个阶段：正常血糖高胰岛素血症(NG–HIns)阶段、糖耐量低减(IGT)和糖尿病阶段[1]。也就是说NG–HIns与IGT同为T2DM的"后备军"。本研究应用胰岛素敏感性检测"金标准"高胰岛素正葡萄糖钳夹技术(HECT)来评估正常糖耐量(NGT)、NG–HIns和IGT 3组不同人群IR水平，旨在深入阐述T2DM发病机制，为T2DM早期预防奠定理论基础。

　
　
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高胰岛素血症
血糖
胰岛素敏感性
胰岛素抵抗
亚组分析